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  • 中國制造:儀器設備化道路上的三大障礙

    發布于 2012/07/03閱讀(1037)來源 zxj標簽 本昂

    摘要

    中國制造:儀器設備化道路上的三大障礙

    內容

    中國制造:儀器設備化道路上的三大障礙
    一個好的實驗室和研究部門離不開好的設備和儀器,而一臺成功儀器設備的研發背后卻是實現這臺設備的物理原理、數學和自動控制方法等最有力的體現和運用。國內目前自主開發的儀器設備太少了,有分量的就更少了。我們只是一味地在買設備,長此以往,后果不堪設想。每每在實驗室里,看到這個國家的設備,那個國家的設備,唯獨鮮見我們自己的設備,中國制造怎么就這么難!僅從科學研究和應用的角度來說,是什么阻礙了我們的科學儀器設備的發展和技術進步,試圖從三個方面來闡述這個問題,主要包括物理原理、數學和集成電路等。

                

    從物理原理的掌握和運用上來說,這是限制我們深入發展和創新的第一個原因。舉個例子。1986年,物理學諾貝爾獎授予了掃描隧道顯微鏡STM(scanning tunneling microscopy)研究的幾位工作者, 其中之一是瑞士魯西利康(Ruschlikon)IBM的德國物理學家格爾德.賓寧(Gerd Binnig)和瑞士物理學家羅雷爾(Heinrich Rohrer),表彰他們設計出了掃描隧道顯微鏡。STM的基本原理就是利用量子力學中的隧道效應,在金屬針尖和樣品表面形成隧道電流,從而實現了原子的表面成像。但是限于當時的技術條件,樣品只能是導電的,還不能在非金屬表面上進行成像。然而,隨后的發展卻更讓我們吃驚,一些科學家又相繼開發出能夠在絕緣襯底上的原子力顯微鏡AFM(atomic force microscopy),它是以硅或氮化硅為針尖與樣品表面直接接觸(contact mode),施加到樣品上的力小到只有幾個納牛(nN),甚至更小。這樣,一下子就將測試的樣品類型擴展到了幾乎所有的被研究的材料表面。隨后,人們又開發了多種多樣功能類型的表面成像設備。從此,在微米、納米尺度甚至原子水平上表面特性的研究進入到一個嶄新的領域。由此看來,物理原理的掌握和運用實在是一個重要因素。

     

    對數學的理解和運用是第二個主要因素。現代的工業絕大部分技術的實施都是以計算機控制為基礎,因此,需要對諸如電壓等物理模擬量需要進行數字化,然后計算機才能夠進行有效的數據采集,再對數據進行分析,光滑處理,包括濾波分析、時域分析和頻譜分析等,最后輸出圖像等一些列過程。其中,要用到很多數學運算,傅里葉變換(FFT)、拉氏變換(Lplpace)、卷積(convulution)、相關(correlation)和互譜(cross spectrum)等。從這些分析途徑中可以對信號進行頻率的提取、圖像的光滑處理、和未來事物發展的預測等。我們每每能夠看到一些設備的軟件做的不僅界面漂亮,而其數學處理真是很專業、深入又實用。現在,我們也看到國內某些研發部門也都做出了不少自己有特色的軟件,但能否持續開發升級堅持下去,仍是一個問題。因此,只有當從數學原理上有了深刻的認識,并應用到設備上,這才能發揮數學真正的作用。

        

    第三個便是集成電路的研發與應用。固體電子學最大的成功是半導體上的集成電路的成功研制,集成電路上最大的成功應用是在計算機上的發展,而計算機的發展卻是帶動整個網絡時代發展的主要工具,并極大促進整個工業界在自動控制技術等領域中的應用。因此,集成電路的發展真正代表了一個國家科學技術發展的源動力。集成電路在摩爾定律的驅動下,已經大踏步向前,據說IBM等大公司已經開始向9nm的技術邁進。如果我們不能突破這一瓶頸,我們將會被越拉越遠。

     

    這三個方面的問題無疑是制約我們科技發展和進步的主要因素,其中既涉及到軟的環境又涉及到硬的環境。我們可能既不缺乏懂得物理原理的人、也不乏善于數學的人,也不乏努力的技術人才,但是,如果沒有一個很好的整合,未來真的將被越拉越遠。只有開發出自己的設備,才能做出真正的屬于自己的科研,才能真正實現中國制造。

     

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